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飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS），也叫靜態(tài)二次離子質(zhì)譜，是飛行時(shí)間和二次離子質(zhì)譜結合的一種新的表面分析技術(shù)。因其免標記、高靈敏、多組分檢測和高空間分辨成像等優(yōu)勢，為諸多生命科學(xué)問(wèn)題的研究提供了重要的技術(shù)支持。近年來(lái)，TOF-SIMS在基礎細胞生物學(xué)、組織生理病理學(xué)、生物醫藥與臨床醫學(xué)等領(lǐng)域的研究中被廣泛應用。圖1.“水中小白鼠”斑馬魚(yú)（左）；冷凍干燥的斑馬魚(yú)頭部截面的光學(xué)顯微鏡圖像（右）。小科普：斑馬魚(yú)（zebrafish）被稱(chēng)為“水中小白鼠”，是生物學(xué)家的理想實(shí)驗對...

鋰離子電池(LIBs)和鋰金屬電池(LMB)都是多層的復雜體系，具有多種材料和界面，每個(gè)膜層和界面在性能和穩定性方面都起著(zhù)關(guān)鍵作用。調整這些材料的組成和形態(tài)就可以創(chuàng )建更穩定、性能更高的器件，但這些材料非常難以處理和表征。鋰金屬極其容易發(fā)生化學(xué)反應，形成枝晶，枝晶會(huì )刺穿隔膜造成短路，鋰金屬負極在充放電過(guò)程中也會(huì )明顯收縮，破壞保護的固體電解質(zhì)(SEI)膜，降低使用壽命和效率。SEI膜形成的LiF層可以對金屬鋰表面起到鈍化效果，減少鋰枝晶的形成，以提高電池的耐用性，因此開(kāi)發(fā)性能穩定...

殘余應力是材料在經(jīng)過(guò)焊接、鑄造、成型、機械加工或薄膜沉積等過(guò)程中殘留在材料中的內應力。殘余應力分析對于了解這些內應力如何影響部件的性能和使用壽命非常重要。此外，殘余應力分析還可以確定特定的材料特性和失效機制，從而用于構件和零件的設計。傳統上，殘余應力的測試只能在大型落地式衍射儀上進(jìn)行，臺式衍射儀通常用于簡(jiǎn)單的測試項目，比如物相分析。而D6PHASER是一款多功能臺式衍射儀，它不僅可以進(jìn)行常規的粉末衍射分析，還可以進(jìn)行薄膜測試（GID、XRR）、織構和應力測試、對分布函數測試（...

PHITOF-SIMSAssistingTheGreenａndSustainableDevelopmentStrategyofLithiumBattery隨著(zhù)國內新能源汽車(chē)銷(xiāo)量高速增長(cháng)，動(dòng)力電池裝機量也隨之迅速攀升。鑒于新能源汽車(chē)動(dòng)力電池的平均使用壽命約為6~8年，動(dòng)力電池在未來(lái)2-3年內將迎來(lái)大規模退役潮，因此動(dòng)力電池的回收已成為全國甚至全球相關(guān)產(chǎn)業(yè)可持續發(fā)展的關(guān)鍵。鋰的回收需要考慮諸多問(wèn)題，如回收效率、回收成本、環(huán)境污染以及方法的可行性等。傳統的廢鋰回收方法主要有火法冶金...

XPS作為一種表面靈敏的分析技術(shù)，可以探測樣品表面10nm以?xún)鹊男畔?，而在材料分析中深度分析是獲取不同深度下組分和化學(xué)態(tài)信息的重要方法。在XPS深度分析中，有3個(gè)采樣深度值得關(guān)注：（1）0-10nm，這是基于常規AlKαX射線(xiàn)XPS的探測深度，對于超薄膜層結構的深度分析可以通過(guò)變角度XPS實(shí)現；（2）0-30nm，這是基于硬X射線(xiàn)XPS(HAXPES)的探測深度，可以通過(guò)切換X射線(xiàn)能量進(jìn)行無(wú)損深度分析；（3）0-1000nm，需要采用離子束剝離的破壞性深度剖析。氬離子刻蝕是常...

X射線(xiàn)衍射（XRD）是表征有序材料結構的重要工具。高角度的相干散射可以反映原子的排列。在非常低的角度也可以觀(guān)察到相干信號，這些信號可以用來(lái)表征分子篩材料（比如ZSM-41或SBA-15）中圓柱形孔的周期性排列。案例分析低角度數據采集需要嚴格控制空氣散射和照在樣品上的光斑面積。通過(guò)適當地選擇一個(gè)固定尺寸的主光路發(fā)散狹縫和一個(gè)固定的防空氣散射屏，可控制上述的兩個(gè)條件。在D6PHASER上使用動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化(DBO)系統，從而使光路和光斑的控制更加的方便和優(yōu)化可調。DBO包含可變發(fā)散...

固體的電學(xué)、光學(xué)和化學(xué)性質(zhì)深受其占據態(tài)（occupiedstate）和非占據態(tài)（unoccupiedstate）電子結構的共同影響。在半導體材料中，費米能級兩側的電子結構對雜質(zhì)摻雜、能帶調控以及器件的研發(fā)與應用至關(guān)重要，尤其是非占據態(tài)能級結構，它直接決定了電荷的轉移和輸運性能。雖然占據態(tài)的電子信息可通過(guò)光電子能譜，如XPS和UPS來(lái)解析，但由于非占據態(tài)沒(méi)有電子填充，傳統的光電效應方法無(wú)法有效獲取其能帶信息。為了深入探索非占據態(tài)的信息，我們需要借助反光電子能譜（InverseP...

面是指固體表面一個(gè)或數個(gè)原子層的區域，是與外界進(jìn)行物質(zhì)交換和能量交換的通道，其性質(zhì)（如化學(xué)組成、原子排列、電子狀態(tài)等）與體相具有諸多不同，但是材料的表面行為往往決定了材料/器件的功用和性能。因此，表面分析對于新材料、新技術(shù)的研發(fā)至關(guān)重要。常用的表面分析技術(shù)主要有XPS、AES和TOF-SIMS等，其中，AES技術(shù)能夠實(shí)現對納米尺度特征的表面進(jìn)行化學(xué)分析。俄歇電子能譜儀（AugerElectronSpectroscopy，AES）采用場(chǎng)發(fā)射電子源入射樣品的表面，激發(fā)出二次電子（...