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高分辨率X射線(xiàn)成像系統
Skyscan1272X射線(xiàn)顯微高分辨率CT-陶瓷材料孔隙結構
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X射線(xiàn)顯微高分辨率CT-陶瓷材料孔隙結構——SkyScan 1272 是一臺具有革新意義的高分辨率三維 X 射線(xiàn)成像系統。單次掃描可獲得多達 2000 張,每張大小為 209M(14450 x 14450 像素)的超清無(wú)損切片,用于之后高分辨三維重建。通過(guò)*的相襯增強技術(shù),SkyScan1272 對樣品的細節檢測能力(分辨率)高達 350 納米。
X射線(xiàn)顯微高分辨率CT-陶瓷材料孔隙結構——SkyScan 1272的具體設備參數如下:
?設備參數
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?隔熱陶瓷孔隙結構特征分析
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