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機電產(chǎn)品國際招標中標通知書(shū)項目編號：1495-234thhrlab02/0l束蘊香港有限公司：北京懷柔實(shí)驗室2023年第二批科研設備采購項目，采購方式：國際公開(kāi)招標，千2023年06月08日開(kāi)標，評標工作已結束。根據評標委員會(huì )的評審結果，對推薦的中標候選人進(jìn)行了公示，公示期已結束，經(jīng)招標采購工作領(lǐng)導小組確認，在項目編號：1495-234thhrlab02/01(產(chǎn)品名稱(chēng)：少子壽命測試儀）的投標中，貴公司被確認中標，中標金額為XXXXX歐元。請貴公司在收到本中標通知書(shū)后，攜帶所...

—用于快速準確的半導體質(zhì)量控制和分析的新型生產(chǎn)車(chē)間工具分析半導體從晶圓到終端器件的狀態(tài)被認為是高難度的工作，很少有分析設備可以直接用作生產(chǎn)中材料質(zhì)量好壞的“裁決者”。--表面光電壓技術(shù)新品亮相德國FreibergInstruments全新的高分辨率表面光電壓光譜(HR-SPS)是一個(gè)真正的生產(chǎn)型設備，因為它在不影響工藝產(chǎn)出速度的情況下完成工作。HR-SPS檢查生產(chǎn)中使用的材料的關(guān)鍵良率參數-無(wú)論是硅、碳化硅還是其他半導體或光活性材料。產(chǎn)品介紹HR-SPS設備測量材料在一個(gè)或多...

全球-PHIGENESIS在近期已到達束蘊儀器（上海）有限公司的倫琴實(shí)驗室并完成安裝調試。倫琴實(shí)驗室是國內專(zhuān)業(yè)從事X射線(xiàn)相關(guān)分析與開(kāi)發(fā)的機構，提供多方位的X射線(xiàn)測試服務(wù)，以廠(chǎng)家應用實(shí)驗室標準配置了新型設備。針對復雜材料和器件完成從晶體結構到電子結構的完善解析，以及從埃米到毫米的跨尺度表征。束蘊儀器的測試團隊由應用專(zhuān)家領(lǐng)導，同時(shí)與Bruker，ULVAC-PHI等儀器制造商為深度合作伙伴。ULVAC-PHI于2022年7月推出了具備有多功能平臺的X射線(xiàn)光電子能譜儀（XPS）-P...

半導體元器件是現代電子技術(shù)中最為重要的組成部分之一。它們通過(guò)控制電流和電壓來(lái)實(shí)現信息的處理和傳輸，被廣泛應用于計算機、通信、醫療、能源等領(lǐng)域。CT-半導體元器件主要包括二極管、三極管、場(chǎng)效應管、集成電路等。其中，二極管是Z簡(jiǎn)單的半導體元器件，它由P型和N型半導體構成，具有單向導電性質(zhì)。在電路中，二極管可用于整流、限流、穩壓等方面。三極管則由P型、N型半導體以及中間的控制區組成，可以放大或開(kāi)關(guān)電路。場(chǎng)效應管則是一種控制電流的元器件，其特點(diǎn)是輸入電阻高、噪聲低，適用于高頻電路。集...

電子自旋共振波譜儀(ElectronSpinResonanceSpectrometer,ESR)是一種分析物質(zhì)中未成對電子的技術(shù)。它利用電子在磁場(chǎng)中的行為來(lái)測量樣品中的未成對電子數量、結構和動(dòng)力學(xué)。在一個(gè)ESR實(shí)驗中，樣品被置于一個(gè)恒定的強磁場(chǎng)中，然后通過(guò)向樣品施加微波或射頻輻射來(lái)激發(fā)未成對電子的自旋。當微波或射頻能量與未成對電子的自旋相互作用時(shí)，能量將被吸收，導致樣品中未成對電子的自旋狀態(tài)發(fā)生變化。通過(guò)在吸收能量時(shí)記錄所施加的微波或射頻輻射的頻率，可以獲得有關(guān)未成對電子的信...

高分辨X射線(xiàn)顯微鏡是X射線(xiàn)成像術(shù)的一種，也是顯微成像技術(shù)，即將微觀(guān)的、肉眼無(wú)法分辨看出的結構、圖形放大成像以便觀(guān)察研究的器械。X射線(xiàn)成像的襯度原理、設備的構造與主要組成部件(如X射線(xiàn)源、探測器等)，但主要是從宏觀(guān)物體的成像(如人體器管的醫學(xué)成像、機械制品的缺陷探傷、機場(chǎng)車(chē)站的安全檢查等)出發(fā)的。宏觀(guān)成像與微觀(guān)成像有相通之處，如襯度原理、設備的主要組成部件等，但也有區別。高分辨X射線(xiàn)顯微鏡的成像原理與光學(xué)顯微鏡基本上是一樣的，遵從幾何光學(xué)原理，其關(guān)鍵部件是成像和放大作用的光學(xué)元...

X射線(xiàn)衍射儀分為單晶衍射儀和多晶衍射儀兩種。單晶衍射儀的被測對象為單晶體試樣，主要用于確定未知晶體材料的晶體結構?；驹恚涸谝涣尉w中原子或原子團均是周期排列的。將X射線(xiàn)(如Cu的Kα輻射)射到一粒單晶體上會(huì )發(fā)生衍射，由對衍射線(xiàn)的分析可以解析出原子在晶體中的排列規律，也即解出晶體的結構。X射線(xiàn)衍射儀結構組成：(1)X射線(xiàn)發(fā)生器——產(chǎn)生X射線(xiàn)的裝置;X射線(xiàn)發(fā)生器由X射線(xiàn)管、高壓發(fā)生器、管壓和管流穩定電路以及各種保護電路等部分組成?，F代衍射用的X射線(xiàn)管都屬于熱電子管，有密封式...

熒光光譜儀是通過(guò)X射線(xiàn)管產(chǎn)生的X射線(xiàn)作為激光源，激發(fā)光源激發(fā)樣品產(chǎn)生X熒光射線(xiàn)。根據熒光X射線(xiàn)的波長(cháng)和強度來(lái)確定樣品的化學(xué)組成。作為一種質(zhì)量檢測手段，光譜儀在我國各行各業(yè)應用越來(lái)越廣泛。研究光譜儀在分析過(guò)程中的誤差，提高儀器的分析準確度成為重要的課題。熒光分析過(guò)程中產(chǎn)生誤差的原因主要有操作方面、儀器方面、以及試樣本身等三方面因素。一、在熒光光譜儀分析中操作方面帶來(lái)誤差的因素：1、在光譜儀分析制樣過(guò)程中，粉磨時(shí)未設定好粉磨時(shí)間和壓力，達不到要求的粉磨粒度或相應的料度分布。實(shí)驗表...