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產(chǎn)品中心環(huán)境控制原子力顯微鏡檢測
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環(huán)境控制原子力顯微鏡檢測
項目 | 細則 | 收費 | 說(shuō)明 |
空氣下形貌表征 | Air接觸或輕敲模式 | / | 1.如果單個(gè)樣品測試時(shí)間超出30min則按照兩個(gè)樣品計算； 2.液相形貌掃描、電化學(xué)液池模塊測試的樣品，單個(gè)樣品測試時(shí)間超出1小時(shí)則按照兩個(gè)樣品計算； 3探針被樣品污染，按實(shí)際采購探針費加收探針耗材費用； 4.可以自帶探針 |
力學(xué)性能測試 | 力曲線(xiàn)測試、AM-FM粘彈性成像測試 | / | |
電學(xué)性能測試 | 導電AFM成像和I/V曲線(xiàn)測試。電流測試范圍1pA至20nA，電流測試精度1pA | / | |
磁學(xué)性能測試 | MFM模塊，表征樣品磁疇分布 | / | |
STM測試 | 導電樣品表面高分辨成像 | / | |
納米加工、刻蝕 | 納米刻蝕、納米操縱、陽(yáng)極氧化刻蝕、刮擦刻蝕 | / | |
壓電力模塊測試 | 材料表面壓電疇分布，可以提供150V電壓 | / | |
液相形貌測試 | 只接受水相、無(wú)毒有機相溶液測試，具有腐蝕性的有機溶劑另議 | / | |
電化學(xué)液池模塊測試 | 觀(guān)察金屬及其他材料的電化學(xué)沉積、氧化及腐蝕過(guò)程，需要與電化學(xué)工作戰聯(lián)用 | / |
環(huán)境控制原子力顯微鏡檢測
表征偏置電壓下的儲能材料，例如電池極板，薄膜和溶液-電極界面
金屬的電沉積和溶出、腐蝕動(dòng)力學(xué)研究
監測附著(zhù)電極的生物催化劑和微生物隨著(zhù)時(shí)間的形貌變化，以及其他生物物理研究
納米粒子的成核以及生長(cháng)
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